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科技
汎銓攜手安立知攻CPO量測商機
✨ AI 重點整理
- 汎銓與安立知合作整合雙方技術,發展一站式矽光子研發量測平台。
- 合作將以汎銓自主開發的MSS HG矽光子光損偵測設備為核心。
- MSS HG可偵測PIC內部光損位置,並進行故障定位與影像映射。
- 平台未來可依客戶需求擴充光電特性、高速訊號及傳輸品質量測功能。
- 安立知的光電網路分析平台可分析光調變器、雷射、光接收器及光收發模組。
- 安立知亦提供模組化高速BERT平台,支援NRZ、PAM4及高速訊號完整性分析。
- 合作將結合光電參數量測、高速訊號驗證與晶片內部光損追查功能。
- 雙方盼藉技術整合提高PIC設計驗證、故障分析與除錯效率。
- AI資料中心高速互連架構演進,使矽光子、CPO及高速光互連驗證需求增加。
- 汎銓表示,MSS HG旨在補足傳統量測設備的內部光損定位能力,而非取代既有設備。
- 雙方正共同建立更完整的矽光子研發驗證生態系。
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